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FISCHER X-Ray萤光膜厚仪
特点:1.测试台座附狭缝设计、不受样品长度大小限制,可适用於未成品之大型印刷电路板测试。2.微软视窗软体、操作简便。3.付标准SPCZzz(统计制程管制图)及Cp、Cpk、(制程潜能力)软体。
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