Kelvin Probe System 表面电位(功函数)分析仪
* Work Function resolution 1-3 meV (2mm tip), 5-10 meV (50µm) tip.
* Tip to Sample Height Regulation to within 400 nm.
* 3D maps of surface potential and sample topography.
* Scan Probe or scan sample options.
* Color Camera, Zoom Lens, Dedicated TFT Display and optical mounts.
英国KP Technology各系列（单点式，扫瞄式及超高真空）之Kelvin Probe System
可用於测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。
可用於测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。
