Kelvin Probe System 表面電位(功函數)分析儀
* Work Function resolution 1-3 meV (2mm tip), 5-10 meV (50µm) tip.
* Tip to Sample Height Regulation to within 400 nm.
* 3D maps of surface potential and sample topography.
* Scan Probe or scan sample options.
* Color Camera, Zoom Lens, Dedicated TFT Display and optical mounts.
英國KP Technology各系列（單點式，掃瞄式及超高真空）之Kelvin Probe System
可用於測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。
可用於測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。
